新款DUALSCOPE MPO涂鍍層測(cè)厚儀采用廣受承認(rèn)的Fischer探頭技術(shù)，是*為小巧并能程度滿足您測(cè)量需要的儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭，由磁感應(yīng)及電渦流方法，可快速無損地測(cè)量涂鍍層厚度。 

 

德國MPO涂層測(cè)厚儀是德國菲希爾公司在MPOR涂層測(cè)厚儀之后有一款新型涂層測(cè)厚儀，MPO涂層測(cè)厚儀是MPOR的簡(jiǎn)化版本的測(cè)厚儀；集合了磁性測(cè)厚儀（P-MPOD）和渦流測(cè)厚儀（I-MPOD）兩種儀器的功能，是D-MPOD型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品。

 

MPO涂層測(cè)厚儀袖珍式的外觀，攜帶方便，測(cè)量數(shù)據(jù)***，測(cè)量范圍幾乎涵括所有金屬上的涂層厚度。如：

 

●鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

 

●鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。

 

●銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

 

●鋁、鎂材料上陽*氧化膜的厚度。

 

●各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。