piezosystem壓電執(zhí)行器/piezosystem模塊/光纖開關(guān)：德國piezosystem*準(zhǔn)定位與高速移動的**帶領(lǐng)者，piezosystem jena 開發(fā)生產(chǎn)應(yīng)用于高精度運(yùn)動領(lǐng)域的**定位系統(tǒng)。

半導(dǎo)體工業(yè)：oden執(zhí)行器

電子芯片架構(gòu)已經(jīng)縮小到納米級，在半導(dǎo)體工業(yè)生產(chǎn)中基于品質(zhì)控制及高精度測量的要求，壓電驅(qū)動器可提供：

· 擺動**定位控制在µm 和nm 級

· 快速半導(dǎo)體研究掃描系統(tǒng)

· 晶圓支架和晶圓調(diào)整裝置

顯微鏡：

現(xiàn)代顯微任務(wù)要求越來越高的圖像分辨率以及3D圖像掃描系統(tǒng)。除了利用新開發(fā)的特殊光學(xué)方法(如STED，TIRF...)來獲得在生物學(xué)領(lǐng)域越來越多的詳細(xì)信息之外，同時包括其他應(yīng)用方法：

· 自動對焦

· 共聚焦顯微鏡和三維成像系統(tǒng)

· 服務(wù)于現(xiàn)代研究的定位系統(tǒng)如STED;TIRF;DIC;2光子顯微鏡

· 可集成到幾乎所有的主流顯微鏡的定位系統(tǒng)

光學(xué)激光技術(shù)：

激光幾乎應(yīng)用于我們生活中的方方面面。復(fù)雜的激光器和光學(xué)系統(tǒng)組件要求非常精細(xì)的調(diào)整和穩(wěn)定定位，壓電驅(qū)動器可用于：

· 光學(xué)系統(tǒng)及鏡頭的校準(zhǔn)

· 鏡像調(diào)節(jié)，快速仰角調(diào)整及掃描

· 干涉

計量學(xué)：

在晶片或扁平鏡面等平面結(jié)構(gòu)上的檢測要求越來越**的操作，在相關(guān)計量任務(wù)中越快的循環(huán)時間要求越短的響應(yīng)時間。Piezosystem Jena提供的壓電驅(qū)動器和閉環(huán)掃描系統(tǒng)可以確保滿足以上需求。它們可以應(yīng)用于：

· AFM，原子力顯微鏡

· 快速掃描

· 材料研究

壓電復(fù)合驅(qū)動器：

Piezosystem Jena設(shè)計生產(chǎn)的壓電復(fù)合驅(qū)動器能夠承受*短脈沖和高達(dá)上萬牛頓的沖擊。這些產(chǎn)品應(yīng)用于

· 減振隔離

· 材料研究(生成具有高加速度的沖擊波)

· 疲勞試驗(yàn)(長時間高頻振動)

· 地質(zhì)學(xué)

主要型號：

堆棧式執(zhí)行器

Series N、Series N(P-2xx-00)、Series N(P-2xx-40)、Series PA、Series PHL、Series PAHL、Series R/RA、Series PA/T、Series P/S

高速定位器

series nanoX 200、series nanoX 400、series nanoSX 400、series nanoSX 800、series nanoSXY 120、series nanoSXY 400、nanoX 240 SG

平移臺

PX 38、PX 50、PX 100、PX 200、PX 300、PX 400、PX 500、PX 1500、PU 40、PU 90、PU 100、PU 65 HR、PZ 10、PZ 16、PZ 38、PZ 100、PZ 250 SG、PZ 250 CAP WL、PZ 300 AP、PZ 400、PZ 200 OEM、PZ 400 OEM、PZ 700 SI、PZ 8 D12、PZ 20 D12

壓電控制器&放大器

NV 40/3、NV 40/3CLE、NV 40/1 CLE、NV 120/1 CLE、nano box、nano box USB、12V40、30V300、30DV50

干涉儀&測振儀

Series SP-D、MI-Series、EPP-Series、LM-Series、SL-Series